KLA

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品牌介绍

KLA是全球半导体在线检测设备供应商。KLA于2018年3月从安捷伦Keysight Technologies公司收购了行业的龙头产品——高精度原位微纳米力学测试系统——Nano Indenter G200 和高精度微纳米拉伸系统Nano UTM T150;该力学设备的工厂是全球较大的高精度力学测试系统的供应商,1983年成功制造了第一台商用Nano Indenter;该力学设备的工厂是业内罕有达到40年Nano Measurement Tool生产和研究经验的供应商,成熟的工艺保证了新一代Nano Measurement Tool具有相当好的稳定性和可靠性。该力学设备的工厂拥有广泛的顾客群,在高端力学测试系统领域内拥有很高的市场占有率。     KLA是形貌学测试仪的发明者,经过近30年的技术创新和产品更新换代,一直保持着形貌学测试技术的领导地位。KLA形貌学测试设备的工厂是业内罕有超过30年形貌仪台阶仪生产和研究经验的供应商,成熟的工艺保证了新一代仪器具有好的稳定性和可靠性。该形貌学设备的工厂拥有广泛的顾客群,在高端形貌学测试系统领域内拥有相当高的市场占有率。     1. 产品技术水平   KLA公司拥有很多Nano Measurement Tool的核心技术, 并不断推出更多更新更便于操作的纳米测量产品。纳米拉伸测试系统Nano UTM T150,就是基于KLA(科磊半导体)的技术开发的,适用于对多种材料进行高精度拉伸压缩测试分析,对样品的多种力学性能进行快速、实时分析,包括弹性模量、屈服强度、极限抗拉强度,疲劳特性等等。在许多应用研究领域,Nano UTM T150都表现出其无与伦比的杰出性能,诸如:生命科学、材料科学、聚合物材料、交叉学科纳米尺度的研究等。     KLA公司拥有很多Nano Indenter的核心技术,包括已成为业界标准的连续刚度测量功能、接触刚度成像功能以及快速纳米压入测试技术等等;KLA公司的连续刚度测量功能已经成为薄膜、涂层、多相材料等样品检测常用的测试技术,并已经录入各种力学领域的国际标准和中国国家标准内。KLA拥有快速压痕测试技术,最快可达到 1 压痕点/秒。     KLA公司拥有很多形貌学核心技术, 并不断推出更多更新更便于操作的形貌学测量产品。形貌学测试系统D-系列、P-系列和Zeta-系列都是基于KLA的技术开发的,适用于对多种材料进行高精度形貌学测试分析,对样品的多种形貌学性能进行快速、实时分析,包括台阶高度、表面粗糙度、表面形貌,表面内应力分布等等。在半导体科学、材料科学、聚合物材料、生命科学、交叉学科纳米尺度的研究等诸多领域,D-系列、P-系列和Zeta-系列都表现出杰出的性能特征。     2. 售后服务和技术支持   KLA公司在中国有超过600名员工,在国内配备本土Nano Indenter方面的技术专家,在业内拥有非常好的口碑;   KLA公司在中国拥有自己的纳米科学示范实验室,并有专职的应用专家在实验室工作,负责用户的应用技术支持工作;   KLA公司还定期举办高级用户培训班,由公司的应用科学家为不同学科的用户进行各个领域应用的深层次培训。

共有32个商品

KLA 探针式轮廓仪/台阶仪 P-170

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KLA 非接触式光学轮廓仪 Zeta-20

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KLA 非接触式光学轮廓仪 Zeta-300

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KLA 探针式轮廓仪/台阶仪 D-600

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KLA 探针式轮廓仪/台阶仪 P17

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KLA 白光干涉轮廓仪 Profilm 3D

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科磊KLA 探针式轮廓仪/台阶仪 P-7

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KLA 探针式台阶仪 P7

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Candela8520表面缺陷检测系统

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Candela®6300系列光学表面分析仪系统

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Candela®7100系列缺陷检测和分类系统

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Candela 8720 表面缺陷检测系统

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Candela 8420 表面缺陷检测系统

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R50电阻率测试仪

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四探针电阻测量仪

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Tencor® P-7 探针式轮廓仪

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探针式轮廓仪(台阶仪)Tencor®P-17&Tencor®P-17OF

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探针式轮廓仪Tencor® P-170(台阶仪)

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探针式轮廓仪HRP®-260(台阶仪)

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探针式轮廓仪Alpha-Step®D-500 (台阶仪)

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KLA 探针式表面轮廓仪 P-7(台阶仪)

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KLA-Tencor先进的探针式台阶仪

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探针式轮廓仪Alpha-Step® D-600 (台阶仪)

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KLA 台阶仪 D500

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KLA P-7 台阶仪

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