概述
SE-L 是一款全自动高精度光谱椭偏仪,集众多科技专利技术,采用行业前沿创新技术,配置全自动测量模块。通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析。
。高精度自动测量光学椭偏测量解决方案
。全自动变角、调焦等控制平台,一键快速测量
。软件交互式界面配合辅助向导式设计,易上手、操作便捷
。丰富的数据库和几何结构模型库,保证强大数据分析能力
概述
SE-L 是一款全自动高精度光谱椭偏仪,集众多科技专利技术,采用行业前沿创新技术,配置全自动测量模块。通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析。
。高精度自动测量光学椭偏测量解决方案
。全自动变角、调焦等控制平台,一键快速测量
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