L75 PT HS/HD水平模式热膨胀仪系列的开发是为了满足国际学术和实验室研究的需求。该系统可以测量固体、液体、粉末和胶体的热膨胀系数。该系统的独特设计保证了优异的精度、重复性和准确性。L75 PT HS/HD水平模式热膨胀仪系列适用于真空、氧化性和还原性气氛中测量。
该系统可以用于单样品，双样品或差示条件下测量，以获得更高的精度或样品通量。该膨胀仪可选机械和电子部件方便拆卸拆便于在手套箱中的测量使用。
利用自动压力控制设备，根据研究需要，接触压力可以连续地在10—1000mN调整。利用此特性可以连续地选择控制样品膨胀或收缩整个过程中的接触压力。
可以测量以下的物理性质：
热膨胀系数，线性热膨胀，物理热膨胀，烧结温度，相变，软化点，热分解温度，玻璃化转变温度。
配置 单杆或双杆热膨胀仪
温度范围 -180—— 500/700/1000°C
RT —— 1000/1400/1600/2000°C
加热/冷却速率* 0.01 K/min up to 100 K/min
样品支架 熔融石英< 1100°C
Al2O3 < 1750°C
石墨 < 2000°C
样品长度 ≤50 mm
样品直径 7/12/20 mm
可调样品压力 ≤1000 mN
测量范围 500/5000 μm
分辨率 0.125 nm
气氛 还原性、惰性、氧化性, 静态/动态
DTA计算 可选
电路板 集成式
接口 USB
* 取决于炉体
*价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询，我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。
