BeNano Zeta电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系Zeta电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理，样品分散在样品池中，在样品池两端施加一个电场，通过激光照射到电场中的样品上，光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移，进而得到体系的 Zeta 电位信息。
基本性能指标
Zeta电位测试 技术 相位分析光散射
检测角度 12°
Zeta范围 无实际限制
电泳迁移率范围 >±20μm.cm/v.s
电导率范围 0-260mS/cm
最小样品量 0.75mL-1.0mL
Zeta测试粒度范围 2nm-120μm
系统参数 温控范围 -15°C-110°C，精度±0.1°C
激光光源 50mW高性能固体激光器，671nm
相关器 最多4000通道，1011动态线性
检测器 APD，高性能雪崩光电二极管
光强控制 0.0001%-100%，手动或自动
软件 中文和英文 符合21CFR Part 11
★取决于样品和选件
检测参数
●
Zeta电位
●
Zeta电位分布
检测技术
●
电泳光散射
●
相位分析光散射
相关技术
相关应用
