XFlash 6-30 结合了出色的能量分辨率和 30 毫米更大的固体角度®活动区域芯片。这使得探测器对希望在EDS应用的整个谱图中使用探测器的分析中非常有吸引力，从轻元素分析到快速面扫描Mapping，以及EDS和EBSD测量的结合。XFlash 6-30 一定会提供快速的结果。®
总之，XFlash 6-30 具有以下优点：®
XFlash 6-30 出色的能量分辨率（Mn K® 的 123 eV，C K® 的 45 eV 和 F K+ 的 53 eV）®
其他可用分辨率为 Mn K® 的 126 eV 和 129 eV
极高的脉冲处理能力
出色的轻元素和低能量X-ray分析性能（Be - Am 元素范围）
空气冷却，不会因为其他冷却系统而产生震动
电源打开后立即可用
运营成本低
免维护操作
小尺寸，包括 slim-line technology finger
重量低
XFlash 6-30 的推荐应用领域包括：®
用于 SEM、microprobe、FIB-SEM 的 EDS 系统（焊接波纹管可作为选项使用）
将 EDS 和快速 EBSD 分析与eFlash FS 相结合
快速元素面扫描
