QUANTAX FlatQUAD 是基于 XFlash® FlatQUAD 的 EDS 分析系统。这种环形四通道硅漂移探测器实验时位于SEM极靴和样品之间，在EDS测试中实现Max固体角。QUANTAX FlatQUAD 与 ESPRIT 分析软件套件相结合，即使是对于最困难的EDS样品，可以提供无与伦比的面分析性能。
仅使用中等电流就可以进行极快的面分析表征
可以在极低电流(<10pA)下对束流敏感材料进行分析，例如生物或半导体样品
对具有粗糙表面的样品进行表征，有效避免阴影效应
低kV 和高放大倍率下的纳米颗粒和纳米结构分析
SEM 中测量薄样品（如 TEM 薄片）和其他 X 射线产量低的样品的理想化选择
