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三维光学轮廓仪ContourX-1000

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布鲁克
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落地式ContourX-1000 白光干涉(WLI)系统集成了Bruker 在硬件和软件上的最新技术, 可 用于全自动三维表面纹理和粗糙度测量。全新的一键式高级寻找表面 (Advanced Find Surface ™)功能结合自动聚焦和自动照明功能,无需每次测量前手动查找样品表面,极大提升了用户体验且缩短测量时间。结合自适应测量模式 USI 和简 洁的引导式 VisionXpress ™操作界面,ContourX-1000 在任何表面,任何操作人员,甚至多用户高负荷的生产设备下都可提供不打折扣的精确测量。

ContourX-1000独有特点:

倾斜 / 俯仰光学头、双光源和先进的自动化功能可提供快速、灵活的生产车间内测量。 

自校准激光和集成的防震台可确保极高的测 量准确性和可靠性 。

提供的测量和分析软件带有简洁且有引导性的程序和模式,更大程度的方便用户使用。

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