超快阴影泵浦探测系统主要利用调节pump和probe光之间的光程差来进行测试。首先激光打在样品上，样品表面会产生一定程度的损毁，由于本过程很快（ps量级）因此单使用相机连续采集不能够完整的观察到整个损毁的过程。在本仪器中，当每一次激光打在样品后，便可通过延迟线调节两个光脉冲之间的延迟，从而分别采集激光打在样品后不同时刻样品损毁情况。
系统主要技术指标
l 高速光学延迟线：光学延迟线最快速度 400mm/s，精度 0.1微米
l 检测时间窗口范围：8ns
l 探测器：ICCD
l 探测时间分辨率：1.5倍激光脉宽
l 泵浦光和探测光光路各配置 BBO晶体用于倍频（可切换）
l 激发光聚焦镜头： 20X、50X（可选配）
l 成像镜头（接 CCD）（放大倍数可调 2x-24x）
l 全自动样品二维电控移动平台（软件控制）
l 可实现功能：超快光损伤检测、等离子溅射检测
应用实例
1、超快时间分辨光损伤检测：
如图所示，整个采集过程可检测不同超快时间尺度下，激光对样品表面的损伤程度。
2、样品等离子溅射检测
本功能主要利用相机快门采集功能以及延迟来采集不同时刻，样品等离子体溅射过程。整个测试流程是激光聚焦打在样品上，样品会产生等离子体此时相机的曝光时间固定，曝光时间就相当于一个“门”，再通过时序来调节“门”相对于激光打在样品上的时间为0来进行延迟，从而分别拍出不同时间等离子体的溅射过程。本功能还可以进行长时间尺度测试。
